研究会一覧
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135回研究会
近未来の半導体プラズマプロセス高精度制御への挑戦
2018年4月27日(金) 弘済会館
開催日: | 2018年4月27日(金) |
会 場: | 弘済会館 |
趣 旨: | ムーアの法則が提唱されてから 50 年以上、微細化は継続されてきた。現在、1 世代で微細化される大き さは原子十数個レベルまで縮小し、加工バラつきに至っては、原子数個レベルの制御を要求されている。 今後は、3 次元化により集積度と性能のさらなる向上が進められる。これらの高度に微細化・3 次元集積 化された半導体デバイス製造には精細なプロセス制御が必要であり、製造コスト抑制のために、高い生産 性と高歩留の量産技術の確立が求められている。本研究会では、ハードとソフトの両面から近未来の半 導体プロセス制御系の深化について講演いただき、そのボトルネックとブレークスルーについて議論する。 |
プログラム | |
12:20-12:30 | 委員長挨拶 日本学術振興会第153委員会 委員長 白谷 正治 |
12:30-13:20 | 「半導体プラズマプロセスの高信頼性制御の課題と未来への展望」 日立製作所 栗原 優 |
13:20-14:10 | 「任意波形による放電プラズマ生成の課題と展望」 九州大学 白谷 正治 |
14:10-15:00 | 「ガス供給系とプロセスモニタリング技術」 堀場エステック 南 雅和 |
15:00-15:20 | 休憩 |
15:20-16:10 | 「先端半導体デバイス製造の高精度制御」 東京エレクトロンテクノロジーソリューションズ 守屋 剛 |
16:10-17:00 | 「因果関係をモニタリングする」 愛知工業大学 仁科 健 |
17:00-17:15 | 総会 日本学術振興会第153委員会 委員長 白谷 正治 |
17:15 | 閉会 |
17:20~18:50 | 交流会 |